9号彩票
产品搜索

联系方式
北京精科智创科技发展有限公司
联系人:谢伟华
手机:15810615463
电话:86-010-60414386
传真:86-010-61446422
地址:北京市顺义区马坡香悦四季三区
邮编:
邮箱:bjjkzc01@163.com
产品展示首页 > 产品中心 > 材料电磁学性能测试仪 > 四探针测试仪 > JKZC-ST4半导体材料四探针测试仪
半导体材料四探针测试仪

半导体材料四探针测试仪

型    号: JKZC-ST4
报    价: 35000
分享到:

JKZC-ST4型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。

JKZC-ST4半导体材料四探针测试仪的详细资料:

JKZC-ST4型半导体材料四探针测试仪

关键词:电阻,电阻率,四探针,半导体

 

 

      

 

   

  

    

膜探头测薄膜                  钨针探头

一、产品概述

    JKZC-ST4型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。

仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。

仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

二、符合:

1、符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、

2、符合GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》

3、符合美国 A.S.T.M 标准

二、产品应用:

1、测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;

2、可测柔性材料导电薄膜电阻率/方阻

3、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)电阻率/方阻

4、纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻

5、电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量

6、可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻

二、基本技术参数

1、  测量范围

     电  阻:1×10-4~2×105 Ω   ,分辨率:1×10-5~1×102 Ω

   电阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm

   方  阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□

2、测量方式:自动或手动

3、基本精度:±0.1/%

4、四探针探头:

   (1)碳化钨探针:Φ0.5mm,直线探针间距1.0mm,探针压力: 0~2kg 可调

   (2)薄膜方阻探针:Φ0.7mm,直线或方形探针间距2.0mm,探针压力: 0~0.6kg 可

5. 电源:198V -242V(AC),47.5Hz -63Hz

6、操作环境:  0°C -40°C ,≤90%RH

7、外形尺寸:200mm(长)×220 mm(宽)×100mm(高)

8、数据传输方式;USB

9、软件方式:人性化分析软件界面,数据自动生成 

 

    

                      分析软件(一)

 


 如果你对JKZC-ST4半导体材料四探针测试仪感兴趣,想了解更详细的产品信息,填写下表直接与厂家联系:

留言框

  • 产品:

  • 留言内容:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 详细地址:

  • 省份:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
点击这里给我发消息
 

中国化工仪器网

中级会员

中级会员

3

推荐收藏该企业网站
友情链接:幸运飞艇开奖直播  幸运飞艇开奖直播  幸运飞艇开奖直播  幸运飞艇开奖直播  幸运飞艇开奖直播  

免责声明: 本站资料及图片来源互联网文章,本网不承担任何由内容信息所引起的争议和法律责任。所有作品版权归原创作者所有,与本站立场无关,如用户分享不慎侵犯了您的权益,请联系我们告知,我们将做删除处理!